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    臺(tái)式TWE測(cè)試儀
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臺(tái)式TWE測(cè)試儀

采用四波剪切傳感器測(cè)量光學(xué)波前,可用于評(píng)估當(dāng)不同波長(zhǎng)單色光通過(guò)時(shí)光學(xué)元件的性能(如PV、RMS、MTF、像差、球差等結(jié)果)。

  • 400-1100nm
    波長(zhǎng)范圍
  • 5.02×3.75mm
    孔徑尺寸
  • <2 nm RMS
    測(cè)試分辨率(相位)
  • 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

  • 產(chǎn)品參數(shù)

  • 應(yīng)用解決方案

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

  • 高精度波前測(cè)量

    支持10nm RMS解析度,精準(zhǔn)捕捉光學(xué)元件的波前信息與成像質(zhì)量

  • 多功能測(cè)試平臺(tái)

    兼容平面與透鏡類產(chǎn)品,支持快速更換Holder設(shè)計(jì),適配不同規(guī)格產(chǎn)品測(cè)量需求

  • 非接觸式快速檢測(cè)

    采用高穩(wěn)定性光學(xué)系統(tǒng),采集速度快,結(jié)果重復(fù)性高

  • 定制化波長(zhǎng)與輸出

    支持多波段切換測(cè)試,并一鍵輸出定制報(bào)告圖表

  • 集成緊湊高效

    模塊化設(shè)計(jì)節(jié)省空間,搭配可視化軟件界面,操作更直觀高效

產(chǎn)品參數(shù)

系列型號(hào)
  • 臺(tái)式TWE測(cè)試儀
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  • 波長(zhǎng)范圍
  • 尺寸
  • 孔徑尺寸
  • 相位空間分辨率
  • 分辨率(相位)
  • 精度(絕對(duì))
  • 采集頻率
  • 實(shí)時(shí)處理頻率
  • 接口
  • 重量
  • 上/下料模式
  • 精密運(yùn)動(dòng)控制
  • 電源
  • 氣源
  • 功率
  • 額定電流
  • 外觀尺寸
  • 重量
  • 臺(tái)式TWE測(cè)試儀

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    • 波長(zhǎng)范圍
      400-1100 nm
    • 尺寸
      62 mm×64 mm×94 mm
    • 孔徑尺寸
      5.02 mm×3.75 mm
    • 相位空間分辨率
      27.6 μm-77.28 μm(依擴(kuò)束鏡而定)
    • 分辨率(相位)
      <4 nm RMS
    • 精度(絕對(duì))
      10 nm RMS
    • 采集頻率
      60 fps
    • 實(shí)時(shí)處理頻率
      10 fps(全分辨率)
    • 接口
      千兆網(wǎng)
    • 重量
      ~400 g
    • 上/下料模式
      手動(dòng)上下料
    • 精密運(yùn)動(dòng)控制
      手動(dòng)滑臺(tái) 快速替換Holder系統(tǒng)
    • 電源
      AC 220 V,50 Hz
    • 氣源
      無(wú)
    • 功率
      100 W
    • 額定電流
      0.5 A(MAX 1A)
    • 外觀尺寸
      430 mm×430 mm×884.5 mm
    • 重量
      55 kg

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