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    立式TWE測試儀
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立式TWE測試儀

采用四波剪切傳感器測量光學波前,可用于評估當不同波長單色光通過時光學元件的性能(如PV、RMS、MTF、像差、球差等結(jié)果)。

  • 400-1100nm
    波長范圍
  • 5.02×3.75mm
    孔徑尺寸
  • 產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 產(chǎn)品參數(shù)

  • 應(yīng)用解決方案

產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 高精度波前測量

    支持10nm RMS解析度,精準捕捉光學元件的波前信息與成像質(zhì)量

  • 多功能測試平臺

    兼容平面與透鏡類產(chǎn)品,支持快速更換Holder設(shè)計,適配不同規(guī)格產(chǎn)品測量需求

  • 非接觸式快速檢測

    采用高穩(wěn)定性光學系統(tǒng),采集速度快,結(jié)果重復(fù)性高

  • 定制化波長與輸出

    支持多波段切換測試,并一鍵輸出定制報告圖表

  • 集成緊湊高效

    模塊化設(shè)計節(jié)省空間,搭配可視化軟件界面,操作更直觀高效

產(chǎn)品參數(shù)

系列型號
  • 立式TWE測試儀
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  • 波長范圍
  • 尺寸
  • 孔徑尺寸
  • 相位空間分辨率
  • 分辨率(相位)
  • 精度(絕對)
  • 采集頻率
  • 實時處理頻率
  • 接口
  • 重量
  • 上/下料模式
  • 精密運動控制
  • 電源
  • 氣源
  • 功率
  • 額定電流
  • 外觀尺寸
  • 重量
  • 立式TWE測試儀

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    • 波長范圍
      400-1100 nm
    • 尺寸
      62 mm×64 mm×94 mm
    • 孔徑尺寸
      5.02 mm×3.75 mm
    • 相位空間分辨率
      27.6 μm-77.28 μm(依擴束鏡而定)
    • 分辨率(相位)
      <4 nm RMS
    • 精度(絕對)
      10 nm RMS
    • 采集頻率
      60 fps
    • 實時處理頻率
      10 fps(全分辨率)
    • 接口
      千兆網(wǎng)
    • 重量
      ~400 g
    • 上/下料模式
      手動上下料
    • 精密運動控制
      手動滑臺 快速替換Holder系統(tǒng)
    • 電源
      AC 220 V,50 Hz
    • 氣源
      φ10;0.5-0.7兆帕
    • 功率
      1.5KW
    • 額定電流
      6.8 A
    • 外觀尺寸
      910 mm×12500 mm×2040 mm
    • 重量
      1000 kg

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