單粒測(cè)試機(jī)
單粒測(cè)試機(jī)，采用4T探針、標(biāo)準(zhǔn)電表、XYZ自動(dòng)定位系統(tǒng)、視覺系統(tǒng)組成，用于片式薄膜、厚膜、厚膜超低阻、合金超低阻電阻的自動(dòng)定位與阻值測(cè)量。
單粒測(cè)試機(jī)，屬于片式電阻生產(chǎn)制程中的關(guān)鍵設(shè)備，用于激光調(diào)阻前的首檢、激光調(diào)阻后的復(fù)測(cè)或終檢、印刷制程中電阻印刷后的阻值測(cè)試等。
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01005-2512電阻規(guī)格
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0.1mΩ-1Ω/1Ω-100MΩ阻值范圍
資料下載
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產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
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產(chǎn)品應(yīng)用
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產(chǎn)品參數(shù)
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相關(guān)產(chǎn)品
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
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探針為電動(dòng)可調(diào)型，可兼容0201-2512多種規(guī)格
4T探針設(shè)計(jì)為可調(diào)型，探針左右間距可調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)兼容0201-2512多種規(guī)格。01005規(guī)格的電阻尺寸小，采用固定間距探針卡。
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支持多種外接儀表，阻值測(cè)量范圍廣
外接儀表，RM系列(如RM3545)、AE系列(如AE162)等，實(shí)現(xiàn)超低阻(0.1mΩ-1Ω )，常規(guī)阻(1Ω-10MΩ)，超高阻(10MΩ-100MΩ)的阻值測(cè)量。
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支持PR視覺識(shí)別Mark，實(shí)現(xiàn)電阻自動(dòng)對(duì)位
PR視覺，識(shí)別基板左右或上下位置的Mark點(diǎn)(圓形、方形、菱形等)，進(jìn)行基板角度的自動(dòng)校正，確保測(cè)量點(diǎn)位的重復(fù)精度與阻值測(cè)量的準(zhǔn)確性。
產(chǎn)品應(yīng)用
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各類貼片電阻阻值 -
各類貼片電阻阻值 -
各類貼片電阻阻值 -
各類貼片電阻阻值
HiPA-單粒測(cè)試機(jī)
產(chǎn)品參數(shù)
系列型號(hào)
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HiPA標(biāo)準(zhǔn)
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選配
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量測(cè)范圍
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量測(cè)精度
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量測(cè)效率
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量測(cè)方式
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探針設(shè)定
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量測(cè)穩(wěn)定性
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HiPA標(biāo)準(zhǔn)
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量測(cè)范圍0.01μΩ～1200MΩ（電表）
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量測(cè)精度參考RM3545電阻計(jì)的規(guī)格書
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量測(cè)效率參考RM3545電阻計(jì)的規(guī)格書
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量測(cè)方式單通道
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探針設(shè)定4T
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量測(cè)穩(wěn)定性采用RM3545: 1mΩ～10mΩ：＜0.5%；10mΩ～1Ω：＜0.1%； 1Ω～10MΩ：＜0.05%；10MΩ～100MΩ：＜0.1%
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選配
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量測(cè)范圍/
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量測(cè)精度客戶可指定電表
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量測(cè)效率客戶可指定電表
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量測(cè)方式最多可擴(kuò)展到20通道
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探針設(shè)定/
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量測(cè)穩(wěn)定性音圈電機(jī)：1mΩ～1Ω：＜0.1%
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資料下載
相關(guān)產(chǎn)品
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