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TCR高溫測(cè)試機(jī)

高溫測(cè)試機(jī)(也稱TCR測(cè)試機(jī)),采用2T或4T探針,對(duì)常溫狀態(tài)下的電阻進(jìn)行阻值測(cè)量,然后對(duì)平臺(tái)表面的電阻基板進(jìn)行加熱,直到設(shè)定值(如125℃),再次對(duì)高溫狀態(tài)下的電阻進(jìn)行阻值測(cè)量,通過電阻加熱前后的阻值,以及加熱前后的溫度差,即可算出電阻的溫度系數(shù)TCR值。設(shè)備還支持激光切斷加熱前后異常的電阻。

高溫測(cè)試機(jī),屬于片式電阻生產(chǎn)制程中的關(guān)鍵設(shè)備,用于測(cè)試單片電阻基板,每顆電阻的TCR值。

  • 01005-2512
    電阻規(guī)格
  • 100-20
    阻值范圍
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  • 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

  • 產(chǎn)品應(yīng)用

  • 產(chǎn)品參數(shù)

  • 相關(guān)產(chǎn)品

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

  • 自研激光器,成本低,壽命長,售后有保障

    采用JPT自研的激光器,可針對(duì)特定應(yīng)用定制激光器,成本低。選取性能最優(yōu)的器件(光纖、晶體、泵浦源等)組裝激光器,72H老化測(cè)試,長期使用有保障。

  • 加熱溫度可控,精度高

    溫度范圍為 室溫~150℃,溫度值可設(shè)定,平臺(tái)表面四周與中心區(qū)域的溫度差值小,可達(dá)到<±1.5℃

  • 支持激光切斷加熱前后異常的電阻

    加熱前后的異常電阻,可用設(shè)備自帶的激光系統(tǒng)進(jìn)行切斷,避免加熱異?;蛄魅牒笾瞥?。

產(chǎn)品應(yīng)用

  • underlay image NG電阻切斷效果.jpg
    NG電阻切斷效果
  • underlay image 2.jpg
    NG電阻切斷效果

TCR片狀電阻高溫測(cè)試機(jī)

TCR片狀電阻高溫測(cè)試機(jī)1.jpg

產(chǎn)品參數(shù)

系列型號(hào)
  • 高溫測(cè)試機(jī)
    高溫測(cè)試機(jī).png
  • 產(chǎn)品規(guī)格
  • 溫控精度
  • 量測(cè)再現(xiàn)性
  • 激光器功率
  • 振鏡掃描范圍
  • 振鏡切割速度
  • 高溫測(cè)試機(jī)

    高溫測(cè)試機(jī).png
    • 產(chǎn)品規(guī)格
      0201~2512
    • 溫控精度
      ≤±1.5℃ (五點(diǎn)量測(cè))
    • 量測(cè)再現(xiàn)性
      ≤±1.5PPM/℃
    • 激光器功率
      IR≥30W@23kHz
    • 振鏡掃描范圍
      12mm × 75mm@F125
    • 振鏡切割速度
      1mm/s ~ 400mm/s
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