• 10W-1064-01 硅片透射系列檢測模組.png
  • 10W-1064-01 硅片透射系列檢測模組 (2).png
  • 10W-1064-01 硅片透射系列檢測模組.png
  • 10W-1064-01 硅片透射系列檢測模組 (2).png

10W-1064-01 硅片透射系列檢測模組

PL（光致發(fā)光）檢測是一種基于光學(xué)激發(fā)和高靈敏相機成像的非接觸式檢測方法，廣泛應(yīng)用于硅片、太陽能電池片以及其他半導(dǎo)體材料的質(zhì)量檢測。

  • 10W
    功率可選范圍
  • 1064±5nm
    中心波長
  • 10nm
    半波全寬
資料下載

  • 產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 產(chǎn)品應(yīng)用

  • 產(chǎn)品參數(shù)

  • 相關(guān)產(chǎn)品

產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 非接觸式檢測

    PL檢測采用非接觸式的方法，對硅片不造成任何物理損傷或污染，確保樣品在檢測過程中保持完好

  • 高靈敏度

    PL檢測能夠發(fā)現(xiàn)微米級別甚至納米級別的缺陷和雜質(zhì)，其靈敏度遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)方法

  • 快速高效

    PL檢測可以在短時間內(nèi)處理大量樣品，大幅提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量控制的效率

產(chǎn)品應(yīng)用

  • underlay image 10W-1064-01 硅片透射系列檢測模組 相機捕捉示意圖.png
    檢測模組相機捕捉示意圖
  • underlay image 光伏檢測應(yīng)用圖.png
    光伏檢測模組
  • underlay image 光伏檢測應(yīng)用圖3.png
    光伏檢測

產(chǎn)品參數(shù)

系列型號
  • 450nm—100W
    10w1.png
  • 型號（W）
  • 中心波長（nm）
  • 中心波長偏差
  • 平均功率（W）
  • 典型工作距離（mm）
  • 出光口尺寸（mm）
  • 可檢硅片尺寸（mm）
  • 配電需求（V）
  • IO接口
  • 平均功耗（W）
  • 出光控制方式
  • 功率調(diào)節(jié)方式
  • 工作溫濕度（℃）
  • 控制器三維尺寸 (L×W×H)（mm）
  • 光學(xué)模組三維尺寸 (L×W×H)（mm）
  • 重量（kg）
  • 適用工藝

  • 450nm—100W

    10w1.png
    • 型號（W）
      15
    • 中心波長（nm）
      1064
    • 中心波長偏差
      ±5
    • 平均功率（W）
      15
    • 典型工作距離（mm）
      10~25
    • 出光口尺寸（mm）
      280×10
    • 可檢硅片尺寸（mm）
      ≤230
    • 配電需求（V）
      220
    • IO接口
      白 0~24V+/黑 0~0.5V-
    • 平均功耗（W）
      150
    • 出光控制方式
      GUI/編碼開關(guān) IO接口
    • 功率調(diào)節(jié)方式
      GUI/編碼開關(guān)
    • 工作溫濕度（℃）
      20~30；＜80%
    • 控制器三維尺寸 (L×W×H)（mm）
      218×122×111
    • 光學(xué)模組三維尺寸 (L×W×H)（mm）
      316×33×138
    • 重量（kg）
      ≈4
    • 適用工藝
      硅原片及制絨后的硅片
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